集成电路会遭到盐雾的危害让盐雾试验机解决

作者:盐雾试验机    来源:林频环境试验解决方案    发布时间:2022-11-01 11:27    浏览量:
  本文简要介绍了盐雾在自然界中的组成及其对电子产品的影响,并比较了电子产品、部件和材料的盐雾试验参数。根据盐雾试验机的应用范围,通过对部件、材料和整机的逐步检查,简要介绍了提高和评价电子产品长期耐盐雾性能的研究方法。
集成电路会遭到盐雾的危害让盐雾试验机解决
  在大气中,由含盐的小液滴组成的扩散系统是指盐雾。据相关统计,约50%的各种飞机现场故障是由环境引起的。其中,温度占40%,振动占27%,湿热占19%,沙尘占5%,盐雾占4%。可以看出,盐雾在近20个环境因素中排名第五,是一个不容忽视的破坏性因素。
 
  近年来,科学家们开始使用盐雾试验机来研究盐雾对集成电路、雷达天线罩和其他产品的影响。结果表明,由于电化学反应,集成电路会产生腐蚀性物质,破坏电路的表面和性能。同时,它与材料和密封性有一定的关系。当包装具有良好的气密性时,只有电线受到塑料包装和玻璃包装腐蚀的影响,而陶瓷包装受到很大的腐蚀。盐雾显著增加了天线罩对雷达波的反射。形成的闪光花瓣会引起虚拟报警,减少盖壁的传输,形成雷达盲区。
 
  目前,根据不同的应用范围,盐雾试验机可以进行各种盐雾试验方法。研究数据表明,每个标准盐雾的参数范围相同,但由于应用范围不同,测试方法也不同。有连续喷雾、盐雾和干燥交替、盐雾和湿热交替等。到目前为止,我们已经了解了盐雾环境对集成电路的危害。设备已成为主要行业常用的盐雾检测仪器。

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